基于 LSTM-贝叶斯融合模型的器件退化识别与寿命预测
赵耀斌 a, 张 帆 b, 王丽垚 a, 王 鹏 b, 袁进一 c
Device degradation identification and lifetime prediction based on an LSTMBayesian fusion model
ZHAO Yaobin a , ZHANG Fan b , WANG Liyao a , WANG Peng b , YUAN Jinyi c
中国民航大学学报
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2026, (5): 43
-51
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DOI: 10.27055/j.1674-5590.2026.05.005
